服务内容
双束聚焦离子束Dual Beam FIB
Dual Beam FIB:(双束聚焦离子束)机台能在使用离子束切割样品的同时,用电子束对样品断面(剖面)进行观察,亦可进行EDX的成分分析,能针对样品中的微细结构进行纳米尺度的定位及观察。离子束最大电流可达65nA,快速的切削速度能有效缩短取得数据的时间。
SGS Dual Beam FIB测试服务
检测项目:
双束聚焦离子束DualBeamFIBDualBeamFIB:(双束聚焦离子束)机台能在使用离子束切割样品的同时,用电子束对样品断面(剖面)进行观察,亦可进行EDX的成分分析,能针对样品中的微细结构进行纳米尺度的定位及观察。离子束最大电流可达65nA,快速的切削速度能有效缩短取得数......
报告形式 | 电子报告/纸质报告 | 可选语言 | 中文报告/英文报告 |
送样方式 | 邮寄样品 | 服务区域 | 全国服务 |
185-2658-5246
服务流程:
双束聚焦离子束Dual Beam FIB
Dual Beam FIB:(双束聚焦离子束)机台能在使用离子束切割样品的同时,用电子束对样品断面(剖面)进行观察,亦可进行EDX的成分分析,能针对样品中的微细结构进行纳米尺度的定位及观察。离子束最大电流可达65nA,快速的切削速度能有效缩短取得数据的时间。
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