试验背景

电子电工产品长霉会造成产品结构破坏和性能下降， 产品故障甚至损坏，比如导线绝缘层迅速老化、橡胶脆化、密封圈失效、元器件的短路烧毁、绝缘性能失效、金属光泽变暗发花、光学镜头的模糊等。
总之，电子电器产品长霉的后果是非常严重的，轻则影响产品质量和外观，严重的话还会导致产品失效甚至引发重大质量事故。 电子电工产品长霉试验可确定电子产品上长霉程度和长霉对产品特性及其他相关性能影响。
省心测第三方实验室可靠性实验中心具备各种电工电子产品的环境试验能力，为电工电子产品提供专业的长霉试验服务。

长霉程度

首先用肉眼检查样品，若有必要可用立体显微镜放大50倍左右进行检查。按下述等级评定和描述长霉程度：
0级：在放大50倍下，没有发现明显长霉。
1级：显微镜下看到长霉痕迹。
2a级：肉眼看到稀疏长霉或者显微镜下看到分散、局部长霉，长霉面积不超过测试面积的5%。
2b级：肉眼明显看到很多地方或多或少均匀长霉，长霉面积不超过测试面积的25%。
3级：肉眼明显看到长霉，长霉面积超过了测试面积的25%。

试验条件

试验方法1
经过28d培养以后，确定：
1）外观检查确定霉菌生长程度；
2）长霉引起的物理损伤；
3）长霉条件下对功能和/或电性能的影响，如果相关规范中有要求。
如果相关规范要求检查功能和/或测量电性能，培养期应延长至56 d。
试验方法2
用营养液对样品预处理后，进行为期28 d的培养，确定：
1）外观检查确定霉菌生长程度；
2）长霉引起的物理损伤；
3）长霉条件下对功能和/或电性能的影响，如果相关规范中有要求。 通过使用营养液来模拟污染未长霉的样品，会降低样品表面的防霉性能。
如果检查功能和/或测量电气性能，应当考虑该影响。 使用营养液就会发生长霉；如果没有长霉，应当考虑防霉剂的影响。

试验标准

GB/T 2423.16-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉
IEC 60068-2-10：2005 环境试验 第2部分：试验方法 试验J及导则：长霉
GB/T27025-2008检测和校准实验室能力的通用要求
ISO 846：1997塑料-微生物作用评价
MIL-STD-810 F：2000方法 508.5真菌