试验背景

光学和光子学仪器温度周期与正弦振动、随机振动综合试验为评估仪器损坏几率提供了一个相对经济的方法。在仪器研发阶段，有助于从仪器可靠性及维护方面优化材料、元件及组件选择，早期发现长期使用后可能存在的隐患；也可用于生产的监控检测，对于部件及整机装配，可及早发现与生产相关的缺陷或力学、电学及光学特性的误差，从而提高生产质量；从试验结果，可推断出仪器的特定耐久性条件，以消除早期故障及老化。
省心测第三方实验室可靠性实验中心具备各种光学和光子学仪器的环境试验能力，为光学和光子学仪器产品提供专业的温度周期与正弦振动、随机振动综合试验等环境试验服务。

试验范围

光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

试验方法

如果使用机械或其他不可控的振动加速器，温度周期与正弦振动综合试验的加速度峰值或温度周期与随机振动（宽带）综合试验的加速度rms均方值可用试样或标准样本的预先试验方法设置。
不管试验中显示出任一加速度值，设定值在整个试验期间维持不变。
温度周期与随机振动（窄带）综合试验中的加速度rms均方值设置应按GB/T 2423.56的相关规定。
如果温度周期与随机振动（窄带）综合试验中使用控制振动加速器，则应按GB/T 2423.56的相关规定。
温度周期与正弦振动综合试验使用控制振动发生器应按GB/T 2423.10的相关规定。

试验标准

GB/T 12085.1-2022 光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
ISO 9022-19：1994光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围
GB/T 12085.19-2011 光学和光学仪器 环境试验方法 第19部分：温度周期与正弦振动、随机振动综合试验
GB/T 2423.10电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）
GB/T 2423.43 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 振动、冲击和类似动力学试验样品的安装
GB/T 2423.56电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则