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核辐射探测器机械环境试验

检测报告

检测项目:

探测器机械环境试验有稳态振动(正弦)、运输要求完整包装后的公路运输环境、非稳态振动(包括冲击)、自由跌落、按运输要求完整包装后的跌落、倾倒和静负载,以及角运动和恒加速度等。第三方检测机构可靠性实验中心具备各种核辐射探测器的环境试验能力,为核辐射探测器产品提供专业的振动试验、冲击试......

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项目明细
第三方检测机构

试验背景

探测器机械环境试验有稳态振动(正弦)、运输要求完整包装后的公路运输环境、非稳态振动(包括冲击)、自由跌落、按运输要求完整包装后的跌落、倾倒和静负载,以及角运动和恒加速度等。
省心测第三方实验室可靠性实验中心具备各种核辐射探测器的环境试验能力,为核辐射探测器产品提供专业的振动试验、冲击试验、自由跌落试验等机械环境试验服务。

试验目的

振动试验:确定探测器经受振动的适应性以及评价其结构的完好性(包括研究其动态性能特性)。
冲击试验:确定探测器在使用过程中经受多次非重复性机械冲击的适应性以及评定其结构的完好性。
自由跌落试验:确定探测器在使用过程中经受跌落的适应性以及评定其结构的完好性。

试验范围

振动试验:适用于在使用中将会遭受到由于旋转、脉动和振荡诸力(例如在地面车辆、船舶或飞机上可能出现的)所产生的振动影响的产品,或用于经受机械、地震现象所产生的正弦稳态振动影响的产品。
冲击试验、自由跌落试验:主要用于非包装的试验样品,也可用于视包装为其一部分的试验样品。

试验标准

GB/T 10263-2006 核辐射探测器环境条件与试验方法
GB/T 2424.26-2008 电工电子产品环境试验 第3部分:支持文件和导则 振动试验选择
GB/T 2423.58-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fi:振动 混合模式
GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合
GB/T 2423.57-2008 电工电子产品环境试验 第2-81部分:试验方法 试验Ei:冲击 冲击响应谱合成
GB/T 4937 半导体器件机械和气候试验方法 手持电子产品用元器件桌面跌落试验方法

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