概述

  目前，国际通用作法是把商品硅分成金属硅和半导体硅。金属硅是由石英和焦炭在电热炉内冶炼成的产品，主成分硅元素的含量在98%左右（近年来，含si量99.99%的也归在金属硅内），其余杂质为铁、铝、钙等。半导体硅用于制作半导体器件的高纯度金属硅。是以多晶、单晶形态出售，前者价廉，后者价昂。

检验范围

  晶体硅，石英玻璃管材、石英加热管产品，石英电光源产品，石英器件、石英砂和硅微粉，碳化硅，金属硅，熔融石英，水晶工艺品等10大类45项产品的检验。

相关检测标准

    gb/t 14849 工业硅化学分析方法

    gb/t 2881 工业硅

    GB/T 24581 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

    GB/T 6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法

    GB/T 1550 非本征半导体材料导电类型测试方法

    SEMI MF1630 单晶硅Ⅲ－Ⅴ级杂质的低温FT－IR分析测试方法

    GB/T 1553 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

    SEMI MF 1535-1106 非接触微波反射光电导衰减测试硅晶片载流子复合寿命的方法

    GB/T 1557 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

    GB/T 1558 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法

    GB/T 6624 硅抛光片表面质量目测检验方法

    GB/T 4061 硅硅片径向电阻率变化的测量方法

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