（低温运行、低温贮存）试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。

低温环境对设备的主要影响有：

a. 使材料发硬变脆；

b. 润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小； 

c. 电子元器件性能发生变化； 

d. 水冷凝结冰； 

e. 密封件失效； 

f. 材料收缩造成机械结构变化。 

 参考标准

GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》 

IEC 60068-2-1:2007《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》 

GJB150.4A-2009《军用设备环境试验方法 低温试验》 

MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》 

GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》 

GJB4.3-83《舰船电子设备环境试验 低温试验》