手机特殊条件测试

1. 低温跌落试验（Low temperature Drop Test）

2 测试环境：-20°C；4台手机；开机状态。

2 试验方法：将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-20° C的低温试验箱内1小时后取出，进行1.2米的６个面跌落，２个循环，要求3分钟内完成跌落，方法同常温跌落。

2 检验标准：手机外观，结构，功能和电性能参数符合要求。

2. 扭曲测试（Twist Test）

2 测试环境：室温；4台；开机状态；0.08倍手机厚度N·m力矩扭曲手机1000次。

2 检验标准：手机没有变形,外观无异常，各项功能正常。

3. 软压测试（Squeeze Test）                         

2 测试环境：室温（20~25°C）；4台；开机状态；25Kg力反复挤压手机10000次

2 检验标准：手机没有变形,外观无异常，各项功能正常。

4. 撞击测试（impact Test）

2 测试环境：室温（20~25° C）；4台手机；0.2J的功率，打击镜片四角及中心各式各1 次。

检验标准：手机镜盖无变形，无裂缝，无破损（允许有白点），　LCD功能正常。

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