服务内容

5G的商业化进程中，装备、航空、自动化、汽车、电子电器仪表组件、PCB板、IC芯片等行业与领域对器件的可靠性提出了更高的要求。传统的气-气温冲已逐渐难以满足对产品的可靠性验证，行业需要转换时间更少、温度变化更为剧烈的严苛方法，以筛选出性能可靠的产品。

服务范围

电子电气产品，如：车载模组、装备电子、IC芯片等

参照标准

JESD22 B106、MIL-STD-202 Method 107、GJB128A: 1056等

测试周期

根据标准、客户指定的试验条件来定（按小时计算）

检测资质

CNAS认可

服务背景

电子元器件产品在研制、生产等过程中会因各种原因产生缺陷，而产品的可靠性工程可通过功能性能验证、环境应力、机械应力等试验排查或激发产品的某些潜在缺陷，避免后续使用中出现不可逆转的失效。其中，温度冲击试验（Temperature ramp >10℃/min）能够使电子元器件在极端温度的快速变化中，暴露出器件在弱于极端温度变化条件下会出现的潜在缺陷，使产品的可靠性更接近实际需要，从而保证和提高电子产品的可靠性。