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服务范围
集成电路、半导体分立器件、光器件、MEMS器件、MCM模组、阻容感晶振等无源电子元件。
检测标准
●AEC-Q100：适用于各类集成电路芯片；
●AEC-Q101：适用于BJT、MOSFET、IGBT、Diodes、 Rectifier、Zeners、PIN、Varactors等分立器件；
●AEC-Q102: 适用于LEDs、Optocoupler、Photodiodes、 Phototransistors等光器件；
●AEC-Q103:适用于压力传感器、麦克风等MEMS器件；
●AEC-Q104:适用于各类多芯片组件MCM；
●AEC-Q200: 适用于各类电容器、电阻器、电感器、变压器、 阻容⽹络、保险丝等元件。
检测项目
试验类型 | 试验项⽬ |
参数测试类 | 功能验证、电性能参数、光参数、热阻、物理尺⼨、雪崩耐量、短路可靠性等 |
环境应力试验类 | 高温工作、高温反偏、高温栅偏压、温度循环、高温存贮、低温存贮、高压蒸煮、HAST、高温高湿反偏、高温高 湿工作、低温工作、脉冲工作、间歇工作寿命、功率温度循环、恒加速、振动、冲击、跌落、粗细检漏、⽓密性、 盐雾、凝露、硫化氢⽓体腐蚀、混合⽓体腐蚀等 |
工艺质量评价类 | DPA、端子强度、耐溶剂试验、耐焊接热、可焊性、剪切力、无铅测试、可燃性、阻燃性、板弯曲、射束负载等 |
ESD | HBM、CDM、LU |
shouyeli@foxmail.com
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