服务范围
大规模集成电路芯片
检测标准
●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110
●J-STD-020
●JS-001/002
●JESD78
检测项目
(1)芯片级可靠性验证试验:高、低温寿命老化试验,高、低温存储试验,温度(功率)循环、冲击试验,高温高湿试验,高加速应力试验,芯片级机械测试试验,推拉力测试。
(2)芯片静电及闩锁测试( ESD/LU):人体、机器放电模式测试及验证(HBM/MM/TLP),系统 ESD、EOS 测试(IEC-ESD/Surge/EFT),元器件充放电模式测试(CDM),闩锁测试(LU)。