服务范围

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半导体器件等分立器件，以及上述元件构成的功率模块

检测标准

l  GJB548B-2005微电子器件试验⽅法和程序

l  GJB8897-2017军用电子元器件失效分析要求与⽅法

l  QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

检测项目

相关资质

CNAS

服务背景

受益于国产替代趋势，国内功率器件厂商迎来了空前的发展机会。在成长中厂商迫切希望减少或消除产品失效，并在设计、⼯艺和产品研发、量产、可靠性测试、封装等阶段进⾏改进，以迅速占领市场。

省心测第三方实验室的优势

第三方检测机构拥有业界领先的专家团队及先进的失效分析设备，专注功率器件失效根因分析，可为客户提供完整的失效根因分析服务，针对产品的研发设计、来料检验、加⼯组装、测试筛选、客户端使用等各个环节，为客户提供失效分析咨询、协助客户开展设计规划、以及分析测试服务。