一、引言
在宇航领域,半导体集成电路的可靠性至关重要。GB/T43226-2023《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》的出现,为宇航用半导体集成电路的检测提供了重要的标准和依据。
二、测试方法概述
该标准详细规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的流程、设备、环境等方面的要求。
三、测试设备与环境
介绍了进行测试所需的专业设备以及对测试环境的严格要求。
四、测试步骤
逐步阐述具体的测试步骤,包括样品准备、测试参数设置等。
五、测试结果分析
说明如何对测试结果进行准确分析,以评估半导体集成电路的性能。

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